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本视频介绍了Nanosensors Akiyama Probe探针的工作原理和应用，重点讲解了其在动态模式原子力显微镜（AFM）中的使用。Akiyama Probe基于四叉谐振叉结构，结合微加工硅制杠杆，具有自感应和自激发功能，因此不需要光学连续检测。详细阐述了该探针如何通过电激振动并在其共振频率下进行操作，利用频率变化来实现样品的表面特性测量。特别适用于大规模AFM、SEM下的操作以及光敏样品的表征。此外，视频还介绍了与此探针配套的Tuning Fork Sensor Controller，以及如何在不同条件下使用该探针进行高精度测量。
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